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品牌: | 惠普 | HPHP4278A電容計Agilent4278A測量速度:6.5ms/10ms/21ms測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) 0.05%,0.0002(1MHz,21ms)Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器，用于生產線和質量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測試效率（可測量以200μF，這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。技術指標：測量參數(shù)C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進測量時間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度C0.01pF~200.000μF0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pFD0.00001~9.999990.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 電纜長度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。  技術指標：測量參數(shù)C-D，Q，ESR，G測試信號頻率：1kHz和1MHz±0.02%信號電平：0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進測量時間：6.5ms/10ms/21ms(典型值）測量范圍測量參數(shù)1kHz1MHz正常模式1MHz高精度 電纜長度補償0,1或2m比較器：對電容的10倉室分類，對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試存儲卡插槽外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用（存儲卡可任選，參見下面的選件004）。 一般技術指標：工作溫度/濕度  5°~45℃，在40℃時相對濕度為95%  •4278A 1kHz/1MHz電容測試儀  Opt W30 擴大的維修服務  Opt 001 只1kHz測試頻率  Opt 002 只1MHz測試頻率  Opt 003 1%的頻率漂移；電源  100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V  Amax尺寸  約426mm(寬）*177mm(高）*498mm(長）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)重量：  約15kg(33磅，標準）